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发布日期:2024-12-23 11:50 浏览次数:

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  专利摘要显示,本发明公开了一种半导体芯片的测试方法、装置、设备及介质,涉及电子数字数据处理技术领域。首先对半导体芯片的测试流程进行划分,分为内存测试阶段和性能测试阶段,可以更精确地评估半导体芯片的内存能力和性能特征,然后对半导体芯片的内存测试阶段进行分析,得到各半导体芯片的内存质量表征值米乐M6(MiLe)亚洲官方网站- 赔率最高在线投注平台,有助于更准确地评估半导体芯片内存的稳定性和可靠性,可以帮助制造商和供应商在生产过程中进行质量控制,随后对半导体芯片的性能测试阶段进行分析,得到各半导体芯片的性能表征值,可以为半导体芯片性能设计提供数据支持,最后根据各半导体芯片的质量指标值对各半导体芯片进行标注,可以进行更精准的资源分配置,避免半导体芯片的资源浪费。

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