半导体激光器特性测量 一、实验目的 1. 通过本实验学习半导体激光器原理。 2. 测量半导体激光器的几个主要特性。 3. 掌握半导体激光器性能的测试方法。 二、实验仪器 半导体激光器装置、WGD-6 型光学多道分析器、电脑等。 三、实验原理 WGD-6 型光学多道分析器 由光栅单色仪CCD 接收单元扫描系统电子放大器A/D 采集单元计算机组成。该设备集光学欧洲杯-米乐M6官方网站、精密机械、电子学、计算机技术于一体。光学系统采用CT 型如图 M1 反射镜、M2 准光镜、M3 物镜、M4 转镜、G 平面衍射光...
半导体激光器特性测量 一、实验目的 1. 通过本实验学习半导体激光器原理。 2. 测量半导体激光器的几个主要特性。 3. 掌握半导体激光器性能的测试方法。 二、实验仪器 半导体激光器装置、WGD-6 型光学多道分析器、电脑等。 三、实验原理 WGD-6 型光学多道分析器 由光栅单色仪CCD 接收单元扫描系统电子放大器A/D 采集单元计算机组成。该设备集光学、精密机械、电子学、计算机技术于一体。光学系统采用CT 型如图 M1 反射镜、M2 准光镜、M3 物镜、M4 转镜、G 欧洲杯-米乐M6官方网站平面衍射光栅、S1 入射狭缝、S2 光电倍增管接收、S3 CCD 接收。 入射狭缝、出射狭缝均为直狭缝宽度范围02mm 连续可调光源发出的光束进入入射狭缝S1、 S1 位于反射式准光镜M2 的焦面上 通过S1 射入的光束经M2 反射成平行光束投向平面光栅G 上衍射后的平行光束经物镜 M3 成像在S2 上。 四、实验内容及数据分析 1. 半导体激光器输出特性的测量 a) 将各仪器按照要求连接好 b) 打开直流稳压电源打开光多用仪
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